- Procedura negoziata ai sensi dell’art. 63 comma 2, lett. b) punto 3) del D.Lgs. 50/2016 per la fornitura di un Dual Beam - Microscopio elettronico a scansione con sorgente ad emissione di campo, accoppiato a colonna ionica e integrato di sistema di litografia elettronica e ionica (FIB-FEG SEM – IBL/EBL) e sistema di microanalisi